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軸用測定顕微鏡


Vブロック
Vブロック仕様

両センター"
両センター仕様

型式:N.O.W.CAM-5XJ-KSH
製品構成 標準仕様
測定範囲 X軸500mm・Yステージ25mm
最小読取値 0.001mm(リニアスケール用カウンタ・マイクロメータヘッド)
鏡筒 Cマウントズーム鏡筒(USB3.0カメラ付き)
0.7×~5.0×(ズーム比7.0)
実視野 約17×13mm(0.7)~約2.3×1.7mm(5.0)
※1/3インチCCDカメラと13インチモニターを接続した場合
モニター倍率 約16倍~約113倍
※1/3インチCCDカメラと13インチモニターを接続した場合
二重巻きLEDリング照明 35φ~60φ 3点ネジ留め
最大照明 40.000Lux以上
光量調整
ワーク保持 Vブロックor両センター(ワーク長 60mm~)よりお選びいただけます

オプション
■2次元計測ソフト
■Yステージ  50mm ・Y軸 150mm(最小読取値0.01mm)
■照明機器
ダブルアームLED照明
最大照明 250,000Lux(100mm離れた地点での照度 30,000Lux)
台座寸法 70(W) X lOO(D) X 30(H)mm

バックライトLED照明
35(W)X 45(D)X 7(H)mm

照明機器
ダブルアームLED照明
バックライト
バックライトLED照明
※USBカメラ仕様の他、直筒仕様もございます。
その他、特注仕様に関しましては、ご連絡ください。

オプション
■校正スケール(4 in 1マルチモデル対物ミクロメーター)
校正スケール  計測時の校正に便利なスケール(反射照明用)です。
1面に4種類の高精度目盛リがありますので、さまざまな倍率環境でお使い頂けます。

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